顯微顆粒圖像分析儀

簡要描述：Winner99E顯微顆粒圖像分析儀是國內(nèi)一代靜態(tài)顆粒圖像分析設(shè)備，它采用的圖像采集系統(tǒng)與分析軟件，將計(jì)算機(jī)圖像學(xué)與顆粒粒度及粒形分析理論*結(jié)合，在獲得清晰的顆粒圖像的同時，將顆粒的粒度、球型度、長徑比、龐大率、表面率等相關(guān)顆粒大小和形狀的表征參數(shù)以特征值和分布的形式呈現(xiàn)出來，使用戶可以詳細(xì)的了解顆粒。

更新時間：2024-07-24

產(chǎn)品型號：Winner99E

廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家

訪問量：8680

生產(chǎn)地址：濟(jì)南市高新區(qū)大學(xué)科技園北區(qū)F座東二單元

產(chǎn)品詳情

品牌	微納顆粒	產(chǎn)地類別	國產(chǎn)

Winner99E顯微顆粒圖像分析儀

一、產(chǎn)品簡介

Winner99E顯微顆粒圖像分析儀是新一代靜態(tài)顆粒圖像分析設(shè)備，它采用創(chuàng)新的圖像采集系統(tǒng)與分析軟件，將計(jì)算機(jī)圖像學(xué)與顆粒粒度及粒形分析理論*結(jié)合，在獲得清晰的顆粒圖像的同時，將顆粒的粒度、球型度、長徑比、龐大率、表面率等相關(guān)顆粒大小和形狀的表征參數(shù)以特征值和分布的形式呈現(xiàn)出來，使用戶可以詳細(xì)的了解顆粒。此外，該款儀器還賦予了自動化、智能化能時代性的標(biāo)志、使其操作更簡便、分析更智能、結(jié)果更穩(wěn)定，是顆粒粒度測試及粒形分析的選搭檔和得力助手。

二、性能特點(diǎn)

直觀反映顆粒形貌 將顆粒的表面形貌直接反映到計(jì)算機(jī)屏幕，用戶可以直觀且全面了解顆粒的表面及形狀屬性；

*拼接多幅圖像將選取不同視場拍攝的多幅顆粒圖像拼接成一幅，使參與分析的顆粒數(shù)量更多，測試結(jié)果更具代表性；

自動分割粘連顆粒 采用更先進(jìn)的顆粒識別算法，對各種形狀的粘連顆粒都能自動分割，顯著提高粘連顆粒分割準(zhǔn)確率，減少人為參與，有效縮短圖像處理時間；

自適應(yīng)二值化功能 采用一種自適應(yīng)二值化功能，使其進(jìn)行圖像二值化處理時不受拍攝光線的影響，避免了因光線不均勻等因素而導(dǎo)致顆粒信息丟失的情況，為后續(xù)處理的精準(zhǔn)度奠定基礎(chǔ)；

自動處理顆粒圖像 顆粒圖像分析軟件含有自動處理工具集，集成了二值化、消除邊界不完整顆粒、消除雜點(diǎn)、填充空洞、平滑邊緣、分割粘連顆粒、計(jì)算顆粒參數(shù)等功能的自動操作，一鍵即可完成顆粒圖像處理到分析結(jié)果的生成等全部過程，操作簡便且結(jié)果可靠；

自由切換粒徑單位 標(biāo)尺選取支持多種長度單位、可在納米、微米和毫米之間自由切換，便于用戶對通過電鏡等其他方式獲取的顆粒圖片實(shí)現(xiàn)進(jìn)一步處理；

快速處理特殊形狀顆粒 對于球形顆粒，采用*的處理算法，對原始圖片無需進(jìn)行任何處理而直接分析顆粒粒徑信息，即使顆粒顆粒之間相互粘連或重疊也不會影響分析結(jié)果，提高球形顆粒的分析效率。

三、Winner99E技術(shù)參數(shù)

規(guī)格型號		Winner99E
執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)		ISO13322-1: 2004; GB/T21649.1-2008
顯微系統(tǒng)	物鏡	4X、10X、40X、60X、100X（油）長距消色差（平場）物鏡組
	目鏡	1X、10X、16X 大視野攝像目鏡
	載物臺	手動三維機(jī)械式載物臺，尺寸：185mm×140mm，移動范圍：50mm×75mm，粗微同軸調(diào)焦，微動格值：2μm,帶鎖緊和限位裝置
	光源	底部透射光源，6V 20W鹵素?zé)?亮度可調(diào)?？蛇x頂部金相落射式光源（帶起偏振器）
	總放大倍數(shù)	4倍——1600倍
攝像系統(tǒng)	zui高分辨率	2048×1536
	像素尺寸	3.2μm×3.2μm
	成像元件	1/1.8英寸 progress scan CMOS
	幀率	6fps@2048×1536 / 10fps@1600×1200 / 15fps@1280×1024 / 30fps@640×480
	zui高清晰度	900線
	信噪比	小于42dB
	敏感度	1.0V@550nm/lux/S
	輸出方式	USB2.0
	實(shí)際觀測范圍	1-6000μm
軟件功能	靜態(tài)采集	將樣品形貌拍攝為高清晰JPG圖片
	圖片處理	使用多種畫圖工具對圖片進(jìn)行比較簡單的處理
	圖像拼接	將多幅圖片進(jìn)行無縫拼接,在顆粒測試中能夠獲得更多的顆粒數(shù)量以提高測試的代表性。同時也可單張分析保存后再進(jìn)行拼接，進(jìn)一步提高了結(jié)果的準(zhǔn)確性。
	顆粒的自動處理工具集	自動消除顆粒粘連、自動消除雜點(diǎn)、自動消除邊界不完整顆粒、自動填補(bǔ)顆粒的空心區(qū)域、自動平滑顆粒邊緣等12項(xiàng)自動處理工具。
	比例尺標(biāo)定	通過國家標(biāo)準(zhǔn)測微尺標(biāo)定后，每次測試只須選擇與物鏡相對應(yīng)的比例尺數(shù)值即可直接得到顆粒的實(shí)際大小數(shù)值。
	單個顆粒數(shù)據(jù)	可在圖片上直接對單個顆粒進(jìn)行截面積、體積、長徑比等10多項(xiàng)參數(shù)的分析。
	任務(wù)管理機(jī)制	嚴(yán)格的任務(wù)管理機(jī)制，使用戶能夠?qū)⑺袦y試數(shù)據(jù)井井有條的管理起來。
	報(bào)告輸出	將測試結(jié)果輸出為報(bào)告，并可以自由修改報(bào)告樣式。
	整體分布特征參數(shù)	D10、D50（中位徑）、D90、D100等顆粒分布的特征參數(shù)
報(bào)告參數(shù)	整體頻率分布累計(jì)分布	顆粒按數(shù)量、體積、面積等分布的頻率分布與累計(jì)分布的數(shù)據(jù)表、曲線圖、柱狀圖等。
	統(tǒng)計(jì)平均徑	Xnl、Xns、Xnv、Xls、Xlv、Xsv等常用的統(tǒng)計(jì)平均徑
	形狀參數(shù)	長徑比、龐大率、球型度、表面率、比表面積、外接矩形參數(shù)等表征顆粒形狀的10多項(xiàng)常用數(shù)據(jù)
	個數(shù)統(tǒng)計(jì)	直接得到所觀測的顆粒數(shù)量
	樣品縮略圖	可以將樣品彩色或黑白（可選擇）縮略圖顯示到報(bào)告中
	表頭輸入	可以將樣品名稱、測試單位、分散介質(zhì)等多項(xiàng)信息輸入到報(bào)告表頭中