任中京教授受邀參加2013年SAC/TC168顆粒分技術(shù)委員會年會
點(diǎn)擊次數(shù)：1950 發(fā)布時(shí)間：2013-11-04
全國顆粒表征與分檢及篩網(wǎng)標(biāo)委會顆粒分技術(shù)委員會（以下簡稱“分委會”）年會于10月19日-21日在安徽池州召開。會議由國家非金屬礦深加工產(chǎn)品質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)中心承辦，共有28名委員和代表參會。會議討論了立項(xiàng)項(xiàng)目的擬定標(biāo)準(zhǔn)及其顆粒分析技術(shù)在國內(nèi)的適用性、應(yīng)用領(lǐng)域、標(biāo)準(zhǔn)名稱的適宜性以及與標(biāo)準(zhǔn)的關(guān)系等。
作為全國顆粒測試技術(shù)的者濟(jì)南微納顆粒儀器股份有限公司的董事長任中京教授受邀參加了此次會議。任中京教授從事激光顆粒分析理論與技術(shù)研究工作30年有余。期間主持并完成國家省部科技攻關(guān)項(xiàng)目4項(xiàng)。發(fā)表論文60余篇，其中收入美國工程索引（EI）研究論文20余篇，在顆粒學(xué)研究領(lǐng)域享有很高聲譽(yù)。
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