動態(tài)顆粒圖像分析儀的研制(濟南微納)
動態(tài)顆粒圖像分析儀的研制
任中京
濟南微納顆粒儀器股份有限公司
摘要:本文論證了研制動態(tài)顆粒圖像分析儀的必要性與背景, 介紹了winner100實現(xiàn)動態(tài)顆粒測試的方法以及技術(shù)特征。評價了動態(tài)顆粒圖像分析儀的實用價值與科學意義。
關(guān)鍵詞:動態(tài)顆粒, 圖像分析, 粒度與形狀,三維
一、問題的提出
顆粒是組成材料的基本單元, 影響材料的性能的不僅是顆粒的化學組成, 顆粒的大小與顆粒的形態(tài)對材料的性能影響巨大, 因此顆粒粒度與形態(tài)的檢測越來越受到各行業(yè)的重視。目前檢測顆粒大小和顆粒形態(tài)的方法有多種,激光粒度分析儀、沉降粒度儀、電阻法粒度亦、顆粒圖像分析技術(shù)是zui常用的技術(shù)。激光粒度分析儀、沉降粒度儀、電阻法粒度儀, 只能檢測顆粒大小, 不能檢測顆粒形狀;顆粒圖像分析技術(shù)是一種不僅可以檢測顆粒大小也可以檢測顆粒形狀對*方法, 但是由于此種技術(shù)有幾個致命的缺點限制了它的進一步發(fā)展:
1.樣品制備困難。顆粒在載玻片上很難得到充分的分散, 由于顆粒粘連使得顆粒分析的準確性大受影響;
- 顆粒處于靜態(tài), 非球形顆粒的取向會對測試結(jié)果造成偏離;
- 由于顯微鏡的視場有限, 被測得顆粒數(shù)目受到很大限制, 因此取樣的代表性差, 重復性不好。
由于以上問題, 顆粒測試中急需一種性能更加*的測試裝置, 能夠獲得顆粒的準確圖像, 操作簡便, 滿足顆粒形狀和顆粒粒度分析的更高要求。
上荷蘭安米德公司、德國新帕泰克公司、德國萊馳公司均推出了同時測定顆粒粒與形狀的圖像分析儀。國內(nèi)尚無此種產(chǎn)品, 濟南微納公司通過3年的攻關(guān)研制的winner100 顆粒圖像分析儀*此項空白。
二、動態(tài)顆粒測試的方法與技術(shù)特征
Winner100突破了傳統(tǒng)的顆粒圖像儀的工作模式, 采用超聲樣品分散系統(tǒng)分散顆粒, 高速攝像頭對動態(tài)顆粒圖像進行采集, 1微秒可以采集一幅顆粒圖像, 用計算機對圖像進行分析處理, 達到對顆粒粒度與形態(tài)進行三維同時測試的目的。其主要技術(shù)特征有:
1.*改變了手工制樣操作繁瑣的局面, 樣品制備操作非常簡單, 分散效果好;
2.采用功能強大的動態(tài)顆粒圖像分析軟件, 具有高速采樣、自動顆粒圖像處理, 實時顯示當前圖像、實時分析粒度分布、連續(xù)統(tǒng)計分析結(jié)果, 處理策略自行編程, 多種粒徑定義選擇, 粒度統(tǒng)計、形狀分析等多種功能。打印報告允許自行編輯。
3.動態(tài)測試使顆粒采樣數(shù)量無限增加, 統(tǒng)計結(jié)果真實可靠, 代表性好、重
復性高;
4.動態(tài)測試使顆粒不同側(cè)面得到采樣, 實現(xiàn)了三維測試, *消除了二維
測試的顆粒取向誤差;粒度測試結(jié)果可以與激光粒度分析儀比美。
5.winner100動態(tài)圖像分析軟件具有強大的圖像處理功能;
6.支持多種粒徑選擇和多種粒度分布, 具有多種圖像處理功能及其集成處理, 支持圖像采集間隔設(shè)定與實時顯示顆粒形貌與當時粒度分布和累計粒度分布, 記錄并顯示粒度波動圖, 可以輸出多種分析圖表, 高性能的軟件使使用者的顆粒分析工作變得十分輕松方便。
7.本成果不僅可用于實驗室顆粒分析, 也適用于顆粒在線粒度與粒形監(jiān)測。
三、對杜會經(jīng)濟發(fā)展和科學進步的意義
本項目突破了顯微靜態(tài)圖像分析的局限, 在國內(nèi)提出動態(tài)顆粒圖像分析的概念; 由于顆粒運動中測試, 克服了二維顆粒圖像分析的弊病, 大大提高了采樣代表性, 消除了顆粒取向誤差, 使顆粒粘連問題*解決。
本項成果克服了靜態(tài)顆粒圖像儀的缺陷, 提供了一種對運動顆粒同時進行粒度與形狀分析的先進手段, 具有操作簡單, 測試范圍廣, 代表性好, 準確可靠, 直觀可視, 適用于1-6000微米的各種固體顆粒??梢詮V泛應用于建材、化工、石油、金屬與非金屬、環(huán)保、輕工、國防等眾多領(lǐng)域的實驗室和在線顆粒粒度與形狀分析。無疑, 對于提高我國各行業(yè)顆粒測試水平和經(jīng)濟發(fā)展具有重要的實用價值。
顆粒測試的基礎(chǔ)是顆粒的表征, 本項成果提供了一種顆粒動態(tài)測試的實用手段, 因此顆粒的三維表征問題就提到了議事日程上來, 顆粒的三維表征對顆粒學的進步與發(fā)展具有重要的意義。
顆粒形狀分析在此以前多半停留在實驗室, 沒有進入實用化,原因是缺少簡便的測試手段。Winner100研制成功有可能會使顆粒形狀分析進入實用階段, 因而對材料科學特別是顆粒材料的發(fā)展提供了一種先進實用的儀器。
參考文獻:
ISO/DIS13322-2Particle size analysis-Image analysis methods-Part 2:Dynamic image analysis methods
發(fā)表的時間:2007年10月
刊物名稱:2007年全國粉體工業(yè)技術(shù)大會論文集
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