講述激光粒度儀的量程分檔和不分檔的差別
點(diǎn)擊次數(shù)：1493 發(fā)布時(shí)間：2017-08-18
激光粒度儀的量程是指系統(tǒng)所能達(dá)到的zui大上限和zui小下限，分全程量程和分檔量程兩種形式，全程量程是從上限到下限一次測量，這種設(shè)置的優(yōu)點(diǎn)是操作簡便，重復(fù)性好，沒有歧義，是目前大多數(shù)激光粒度儀制造商普遍采用的方式；分檔量程是在全量程中又分成若干段。它的優(yōu)點(diǎn)是在探測器數(shù)量有限的情況下提高分辨率，缺點(diǎn)是容易產(chǎn)生歧義（同一個(gè)樣品在不同檔的測試結(jié)果不一致），調(diào)整過程容易產(chǎn)生誤差，是早期激光粒度儀普遍采用的技術(shù)。
激光粒度儀校準(zhǔn)樣品特點(diǎn)：
樣品狀態(tài)是固體干粉，凈含量高，使用成本低
化學(xué)性質(zhì)穩(wěn)定好，不易變質(zhì)，可長期儲存
粒度分布均勻，確保樣品重復(fù)性誤差小于1%
分散性好，無團(tuán)聚，使用便利
能客觀檢驗(yàn)粒度儀真實(shí)狀態(tài)
產(chǎn)品材質(zhì)分為二氧化硅或碳化硅干粉
粒徑區(qū)間：D50：2um--50um
